文献

J-GLOBAL ID：201202223553963148   整理番号：12A0583369

交差偏光無開口近接場光学顕微鏡法によるプラズモン構造の背景雑音のない画像化

Background-free imaging of plasmonic structures with cross-polarized apertureless scanning near-field optical microscopy

著者 (5件)： ESSLINGER M. (Max-Planck-Institut fuer Festkoerperforschung, 70569 Stuttgart, DEU) ,  DORFMUELLER J. (Max-Planck-Institut fuer Festkoerperforschung, 70569 Stuttgart, DEU) ,  KHUNSIN W. (Max-Planck-Institut fuer Festkoerperforschung, 70569 Stuttgart, DEU) ,  VOGELGESANG R. (Max-Planck-Institut fuer Festkoerperforschung, 70569 Stuttgart, DEU) ,  KERN K. (Max-Planck-Institut fuer Festkoerperforschung, 70569 Stuttgart, DEU)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 83  号： 3  ページ： 033704-033704-6  発行年： 2012年03月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 無開口近接場光学顕微鏡法(aSNOM)の実験的手法の進展を提示する。合理的な調整手順の概要は,s偏光励起とp偏光検出からなる実質上の交差偏光構成付近で偏光子を走査する間に発生する位相特異点に基づいている。この位相特性の理論的起源を,小さな変位,例えば,小さなチップのずれ,あるいは,形状変化に対して揺るがない構成配置で議論した。この特異な構成点に偏光子を設置することによって,背景雑音をすべて除去し,最適な信号対雑音比を有する再現性のあるプラズモン固有モードマッピングを可能にした。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *光学顕微鏡法 ,  *偏光 ,  雑音 ,  *プラズモン ,  位相特性 ,  SN比 ,  最適化 ,  *雑音除去
準シソーラス用語： *近接場光学顕微鏡法 ,  背景雑音

分類 (1件)： 光学的測定とその装置一般  (BD07010S)

タイトルに関連する用語 (6件)： 交差 ,  偏光 ,  近接場光学顕微鏡 ,  プラズモン ,  背景雑音 ,  画像化