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J-GLOBAL ID：201202223571012495   整理番号：12A1584745

エポキシ界面を理解するための分子スケールから抽出したメソスケールモデルへのスケーリングの観点

Aspects of Scaling to Mesoscale Models Derived from the Molecular Scale for Understanding Epoxy Interfaces

著者 (1件)： IWAMOTO Nancy (Honeywell Performance Materials and Technol.)
資料名： Proceedings. Electronic Components & Technology Conference  (Proceedings. Electronic Components & Technology Conference)
巻： 62nd Vol.3  ページ： 1774-1780  発行年： 2012年 
JST資料番号： H0393A  ISSN： 0569-5503  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： エポキシ-銅リードフレーム界面の機械的故障原因を調べるとき,モデリングは有効な手段である。本稿では,分子スケールからメソスケールモデルへのスケーリングについて述べた。最も基本的な仮説として,エネルギー応答の弾性的部分はまず原子レベルの短距離応答から導かれるだろうという推定をした。このメソスケールモデルは,界面密度や架橋密度の界面ロバスト性への影響のような定量的性質および界面発生の界面故障への影響のような定性的性質のスケーリングに使用できた。さらに,表面粗さや水分含有量をメソスケールモデルに容易に組み込めることを示した。この方法は,粗粒状化によるパラメタリゼーションは単純で分子モデルのボンディングとアーキテクチャ品質を維持するが,大きな原子系を表現するために大きな計算機リソースを必要としない。

シソーラス用語： リードフレーム ,  *エポキシ樹脂 ,  スケーリング【計数】 ,  応答 ,  エネルギー ,  *モデル ,  中規模 ,  架橋度 ,  現象 ,  界面 ,  表面粗さ ,  含水量 ,  パラメタリゼーション ,  分子モデル ,  *故障解析
準シソーラス用語： エネルギー応答 ,  *メソスケールモデル ,  架橋密度 ,  界面現象 ,  水分含有量

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  計算機シミュレーション  (JE11000H)

タイトルに関連する用語 (7件)： 界面 ,  理解 ,  分子 ,  スケール ,  メソスケールモデル ,  スケーリング ,  観点