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J-GLOBAL ID:201202224258898195   整理番号:12A0339879

二重周波数エレクトロウェッティング: ディジタルマイクロシステム内の液滴蒸発測定への応用

Dual-Frequency Electrowetting: Application to Drop Evaporation Gauging within a Digital Microsystem
著者 (2件):
資料名:
巻: 28  号:ページ: 1041-1048  発行年: 2012年01月10日 
JST資料番号: A0231B  ISSN: 0743-7463  CODEN: LANGD5  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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Michelson干渉測定および共平面エレクトロウェッティングを利用して,固着液滴のサイズ評価とその蒸発速度を測定する方法について述べた。高周波数のエレクトロウェッティング電圧から,固着液滴の接触角を調べて液体半球を求め,それが一定接触角に基づく液滴蒸発理論に完全に従うことを明らかにした。またエレクトロウェッティング駆動の低周波数変調を加えることにより液滴形状の振動と毛細管共鳴を生起させた。干渉測定により時間に依存する毛細管スペクトルの測定,特に液滴蒸発による周波数シフトの測定が可能となった。その結果,液滴蒸発の拡散速度論が正しく評価されることがわかった。
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
液-気界面  ,  膜流,液滴,気泡,キャビテーション 

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