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J-GLOBAL ID：201202224394335455   整理番号：12A0433618

電子線後方散乱回折による強誘電ビスマスフェライト(BiFeO₃)セラミックの微細構造特性評価

Microstructural Characterization of Ferroelectric Bismuth Ferrite (BiFeO₃) Ceramic by Electron Backscattered Diffraction

著者 (4件)： KOLTE Jayant (Indian Inst. Technol. Bombay, Mumbai, IND) ,  GULWADE Devidas (VES Coll. Arts, Sci. & Commerce, Mumbai, IND) ,  DARYAPURKAR Aatish (Indian Inst. Technol. Bombay, Mumbai, IND) ,  GOPALAN Prakash (Indian Inst. Technol. Bombay, Mumbai, IND)
資料名： Materials Science Forum  (Materials Science Forum)
巻： 702/703  号： Pt.2  ページ： 1011-1014  発行年： 2012年 
JST資料番号： D0716B  ISSN： 0255-5476  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： スイス (CHE)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (6件)： 電子線後方散乱回折 ,  ビスマスフェライト ,  BiFeO3 ,  セラミック ,  微細構造 ,  特性評価