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J-GLOBAL ID：201202224869082301   整理番号：12A1287357

相変化型光ディスクシステムのための非線形マークエッジシフトの測定

Measurements of Nonlinear Mark Edge Shift for Phase Change Optical Disk Systems

著者 (3件)： OKUBO Kohei (Ibaraki National Coll. Technol., Ibaraki, JPN) ,  ANSAI Tsutomu (Ibaraki National Coll. Technol., Ibaraki, JPN) ,  TANABE Takaya (Ibaraki National Coll. Technol., Ibaraki, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 51  号： 8,Issue 3  ページ： 08JC02.1-08JC02.5  発行年： 2012年08月25日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 相変化型光ディスクシステムに対する非線形マークエッジシフトを評価するための読み出し擬ランダム系列シグナルの自己相関を用いた新しい測定法を提案した。255ビット最大長連続信号を用いて,この方法の測定能力を評価した。パルス列記録を用いることによって非線形マークエッジシフトを実験的に決定した。また,これらの結果は理論的な解析とも一致した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *光ディスク ,  *電気回路 ,  自己相関 ,  信号系列 ,  非線形
準シソーラス用語： *相変化型光ディスク ,  *読出回路 ,  ランダム系列

分類 (1件)： 電子・磁気・光学記録  (NC06020F)

引用文献 (17件)：

• 1) T. Kikukawa, N. Fukuzawa, and T. Kobayashi: Jpn. J. Appl. Phys. 44 (2005) 3596.
• 2) J. Tommaga, T. Shima, M. Kuwahara, T. Fukaya, A. Kolobov, and T. Nakano: J. Nanotechnol. 15 (2004) 411.
• 3) I. Ichimura, K. Saito, T. Yamasaki, and K. Osato: Appl. Opt. 45 (2006) 1794.
• 4) N. Shida, T. Higuchi, Y. Hosoda, H. Miyoshi, A. Nakano, and K. Tsuchiya: Jpn. J. Appl. Phys 43 (2004) 4983.
• 5) H. Habuta, M. Tomiyama, K. Takahashi, M. Tsukuda, Y. Tomekawa, S. Furumiya, and N. Yamada. Jpn. J. Appl. Phys. 47 (2008) 7160.

タイトルに関連する用語 (2件)： 相変化型光ディスク ,  非線形