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J-GLOBAL ID:201202225017020756   整理番号:12A1515824

歪のないSixGe1-x-ySnyの直接および間接バンドギャップとそれらのフォトニックデバイスへの応用

The direct and indirect bandgaps of unstrained SixGe1-x-ySny and their photonic device applications
著者 (3件):
資料名:
巻: 112  号:ページ: 073106-073106-8  発行年: 2012年10月01日 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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経験的な擬ポテンシャル理論を利用して,歪のないSixGe1-x-ySny結晶の直接(Γ)および間接バンドギャップ(LおよびX)をxyの全組成範囲で計算した。結果を三元図ならびに予測された格子パラメータの三元プロットでエネルギー軌跡マップとして示した。種々の中赤外フォトニック応用のために0.2から0.6eVの直接ギャップSiGeSn物質のグループを見いだした。0.8eVに直接ギャップをもつ(しかしGeよりL-Γ間隔が小さい)わずかに間接的なSiGeSn合金の組みを同定した。これらの物質は種々の通信用フォトニックデバイスにおけるGeのように機能するであろう。赤外発光体,増幅器,光検出器および変調器(自由キャリアまたはFranz-Keldysh)のためのヘテロ層SiGeSn構造を述べた。中赤外SiGeSnベースの多重量子井戸レーザダイオード,増幅器,光検出器および量子閉じ込めStark効果変調器のための最適デザインスペースを詳細に調べた。(翻訳著者抄録)
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分類 (3件):
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半導体結晶の電子構造  ,  その他の光伝送素子  ,  測光と光検出器一般 
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