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J-GLOBAL ID:201202226089893238   整理番号:12A0364624

シンクロトロンX線微小回折で示されたインジウムナノ構造の可塑性

Plasticity of indium nanostructures as revealed by synchrotron X-ray microdiffraction
著者 (9件):
資料名:
巻: 538  ページ: 89-97  発行年: 2012年03月15日 
JST資料番号: D0589B  ISSN: 0921-5093  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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1μmに近い直径のインジウム円柱構造を,約0.01と0.001s-1の歪速度の単軸圧縮により変形した。ナノピラーの欠陥密度進化を,シンクロトロンLaue X線微小回折(μSLXRD)を変形前後に同じ試験片に適用することにより評価した。μSLXRD測定の結果は,転位密度が機械的変形の結果として増加し,歪速度の強い関数であることを示した。これらの結果は,圧縮試験時の欠陥生成率が欠陥消滅率を上回り,これらのインジウムナノ構造の可塑性が核形成プロセスよりむしろ転位増殖により始まることを意味することを示唆した。これは,金,錫,モリブデンとビスマスのようなナノスケールでの他の材料の挙動とは対照的である。この相違を説明するために,増殖プロセス前の転位平均自由行程に基づく仮定を提案した。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (2件):
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JSTが定めた文献の分類名称とコードです
非破壊試験  ,  金属の機械的性質 

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