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J-GLOBAL ID：201202226919464343   整理番号：12A1052340

同軸プローブに基づいた複素電磁パラメータの測定に関する一検討

Nondestructive and Simultaneous Measurement of Complex EM Parameters with Scalar Reflectometer

著者 (5件)： CHEN Chun-Ping (神奈川大 工) ,  高森大輝 (神奈川大 工) ,  小田純矢 (神奈川大 工) ,  穴田哲夫 (神奈川大 工) ,  MA Zhewang (埼玉大 工)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 112  号： 74(EST2012 1-8)  ページ： 1-6  発行年： 2012年05月25日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： フランジ付き先端開放同軸プローブを用いて,高損失材料からの複素反射係数を測定することにより,材料の複素誘電率と複素透磁率を同時に求める方法は非破壊測定方法の一つとして注目されている。しかし,この方法において,同軸プローブと測定試料との密着が必須であり,試料表面の粗さによるプローブと試料表面の間の非常に薄い空気隙間存在すると,複素材料定数の測定に大きな影響を与える。本稿では,先ず,空気隙間の複素反射係数の振幅および位相へのそれぞれの影響を調べ,隙間は反射係数の位相への影響が振幅への影響より3倍以上大きいという結論が得られた。更に,従来の複素材料定数を同時に測定するための「膜厚変化法」が誤差の大きい位相特性も必要である不利な点を改善するため,より高いロバスト性を持つ「スカラー反射係数(振幅)に基づいた膜厚変化法」を提案し,検討した。先ず,スペクトル領域法を用いて,複素電磁パレメータと反射係数の関係式を導出した。次に,自働測定システムの構成を示し,測定試料の厚さの選択について検討した。最後に,同一の試料において,いくつかの厚さの組み合わせに基づいて,実際に測定を行い,提案した手法の有効性及び妥当性を検証した。(著者抄録)

シソーラス用語： *同軸線路 ,  *プローブ ,  反射率 ,  *磁性材料 ,  *複素誘電率 ,  透磁率 ,  スカラー ,  複素数 ,  *非破壊測定 ,  吸収体 ,  解析
準シソーラス用語： *パラメータ解析 ,  *電波吸収体 ,  反射係数 ,  *複素透磁率

分類 (1件)： R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器  (AD07030N)

引用文献 (10件)：

• HIPPLE, A. R. V. Dielectric Materials and Applications. 1954
• STUCHLY, M. A. Coaxial line reflection method for measuring dielectric properties of biological substances at radio and microwave frequencies, a review. IEEE Trans. Instrum. Meas. 1980, IM-29, 3, 176-183
• XU, Deming. Recent Advance on Open-Ended Coaxial probe measurement Techniques. 2002 Asian Pacific Microwave Conference Proceedings, Japan. 2002, 2, 999-1006
• CHEN, C.-P. Further Study on Coaxial-Probe-Based Two-Thickness-Method for Nondestructive and Broadband Measurement of Complex EM-parameters of Absorbing Material. IEICE, C. 2007, E90, 94, 1763-1769
• WANG, Shoujun. A frequency-Varying method for simultaneous Measurement of complex permittivity and permeability with an open-ended coaxial probe. IEEE Trans. MTT. 1998, 46, 12, 2145-2147

タイトルに関連する用語 (3件)： 同軸 ,  プローブ ,  パラメータ