マイクロコントローラ電磁耐性のシステムクロック周波数への依存性

SU T.; WANG Z.; UNGER M.; STEINECKE T.; WEIGEL R.

文献

J-GLOBAL ID：201202227334233040 整理番号：12A0664174

マイクロコントローラ電磁耐性のシステムクロック周波数への依存性

Dependence of electromagnetic immunity of microcontrollers on system clock frequency

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資料名：
巻： 48 号： 6 ページ： 324-326 発行年： 2012年03月15日
JST資料番号： A0887A ISSN： 0013-5194 CODEN： ELLEAK 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

マイクロコントローラは再構成可能ICであり構成が変わると電気特性も変化する。システムクロック周波数は基本的構成パラメータであり,広い範囲で可変である。クロック周波数で耐性が変化するとすれば試験とモデリングで大問題である。電磁耐性のシステムクロック周波数依存性を調べた。システムクロックはゲートのスイッチングを制御し,電源配分ネットワーク(PDN)にチャネルを形成する。チャネルはクロック周波数が限界周波数以下ならば無効であり,従って,MHzレンジのRFインタフェイス(RFI)信号にたいしてマイクロコントローラの耐性はクロック周波数に依存しない。

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半導体集積回路

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