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J-GLOBAL ID：201202227777263333   整理番号：12A0230410

CR-39検出器の中の低エネルギーの陽子の飛跡エッチパラメータとアニーリング速度論

Track etch parameters and annealing kinetics assessment of protons of low energy in CR-39 detector

著者 (4件)： JAIN R.k. (Dep. of Physics, School of Basic and Applied Sciences, Shobhit Univ., Meerut 250110, Uttar Pradesh, IND) ,  KUMAR Ashok (Dep. of Physics, School of Basic and Applied Sciences, Shobhit Univ., Meerut 250110, Uttar Pradesh, IND) ,  KUMAR Ashok (Dep. of Applied Sci. (Physics), Vidya Coll. of Engineering, Meerut 250010, Uttar Pradesh, IND) ,  SINGH B.k. (High Energy Physics Lab., Dep. of Physics, Banaras Hindu Univ., Varanasi 221005, Uttar Pradesh, IND)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻： 274  ページ： 100-104  発行年： 2012年03月01日 
JST資料番号： H0899A  ISSN： 0168-583X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： CR-39 ,  *検出器 ,  *粒子飛跡 ,  陽子 ,  感度 ,  10-100keV ,  フルエンス ,  エッチング ,  時間 ,  エネルギー ,  直径 ,  温度 ,  モデル ,  焼なまし

分類 (1件)： 素粒子・核物理実験技術一般  (BE01010F)

タイトルに関連する用語 (9件)： CR-39 ,  検出器 ,  低エネルギー ,  陽子 ,  飛跡 ,  エッチ ,  パラメータ ,  アニーリング ,  速度論