変形石英の格子選択配向解析:高解像度X線回折計の高度な応用

文献

J-GLOBAL ID：201202227991591160 整理番号：12A0662003

Lattice preferred orientation analysis of deformed quartz: An advanced application of high resolution X-ray diffractometer

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巻： 79 号： 2 ページ： 169-174 発行年： 2012年02月
JST資料番号： C0768B ISSN： 0016-7622 資料種別：逐次刊行物 (A)
発行国：インド (IND) 言語：英語 (EN)

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