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J-GLOBAL ID：201202229078266303   整理番号：12A1727171

ナノメートルスケールで加熱したチップ点接触での熱電電圧

Thermoelectric voltage at a nanometer-scale heated tip point contact

著者 (3件)： FLETCHER Patrick C (Univ. Illinois at Urbana-Champaign, IL, USA) ,  LEE Byeonghee (Univ. Illinois at Urbana-Champaign, IL, USA) ,  KING William P (Univ. Illinois at Urbana-Champaign, IL, USA)
資料名： Nanotechnology  (Nanotechnology)
巻： 23  号： 3  ページ： 035401,1-7  発行年： 2012年01月27日 
JST資料番号： W0108A  ISSN： 0957-4484  CODEN： NNOTER  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査型熱顕微鏡(SThM)においては,極度に局在化した領域での温度およびまたは熱伝導率の測定を行う。本研究では,ナノメートルスケールで加熱したチップ点接触での熱電電圧の測定を報告した。測定の対象とした構造は,原子間力顕微鏡の加熱した片持梁のPt被覆チップと,金被覆基板(ガラスまたは石英)との間での熱電測定である。実験結果に基づいて,1)この方法は,熱伝導率<20Wm^-1K^-1の基板に適用できること,2)測定結果は,チップ-基板界面接触抵抗が10⁸KW^-1であると仮定すると,モデルとよく一致すること,を記した。

シソーラス用語： 熱電発電 ,  *点接触 ,  ナノ構造 ,  熱起電力 ,  *顕微鏡観察 ,  白金 ,  金 ,  *原子間力顕微鏡 ,  片持梁 ,  走査電子顕微鏡 ,  *計測 ,  *温度 ,  *熱伝導率 ,  被覆層
準シソーラス用語： 走査型熱顕微鏡

分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  金属結晶の電子伝導  (BM03033M)

タイトルに関連する用語 (3件)： ナノメートルスケール ,  点接触 ,  圧