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J-GLOBAL ID：201202229181798267   整理番号：12A0939777

点欠陥導入セラミックスのアニールに伴う陽電子寿命回復挙動と熱拡散率の相関

著者 (4件)： 秋吉優史 (京大) ,  義家敏正 (京大 原子炉実験所) ,  徐きゅう (京大 原子炉実験所) ,  佐藤紘一 (京大 原子炉実験所)
資料名： KURRI-KR (CD) (CD-ROM)  (KURRI-KR (CD) (CD-ROM))
号： 35  ページ： ROMBUNNO.8  発行年： 2011年 
JST資料番号： L5681A  ISSN： 1349-7960  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *セラミック ,  *点欠陥 ,  焼なまし ,  寿命 ,  温度伝導率 ,  *中性子照射 ,  *電子照射 ,  *窒化アルミニウム ,  温度依存性 ,  アルミナ ,  窒化ケイ素 ,  炭化ケイ素 ,  線形加速器
準シソーラス用語： 陽電子寿命

分類 (3件)： その他の無機化合物の格子欠陥  (BK12050B) ,  中性子との相互作用  (BK16060O) ,  電子・陽電子との相互作用一般  (BK16051U)

タイトルに関連する用語 (8件)： 点欠陥 ,  セラミックス ,  アニール ,  陽電子寿命 ,  回復 ,  挙動 ,  熱拡散率 ,  相関