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J-GLOBAL ID:201202229191390703   整理番号:12A0274258

ZnO-V2O5-MnO2-Nb2O5バリスタセラミックの電気的特性およびエージング挙動に及ぼす焼結プロセスの効果

Effect of sintering process on electrical properties and ageing behavior of ZnO-V2O5-MnO2-Nb2O5 varistor ceramics
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巻: 23  号:ページ: 457-463  発行年: 2012年02月 
JST資料番号: W0003A  ISSN: 0957-4522  CODEN: JMTSAS  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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ZnO-V2O5-MnO2-Nb2O5(ZVMN)バリスタセラミックの微細構造,電気的特性およびエージング挙動に及ぼす焼結プロセスの効果を,875~950°Cで調べた。焼結温度の増加とともに,焼結密度は5.52から5.44g/cm3に減少し,平均粒子サイズは4.4から9.6μmに増加した。焼結温度の増加とともに,ブレークダウン電界(E1mA)は6991から943V/cmに減少した。900°Cで焼成したZVNMバリスタセラミックは,驚くほど高い非線形係数(α=50)へ導いた。焼成温度の増加とともにドナー濃度(Nd)は3.33×1017cm-3から7.46×1017cm-3に増加し,障壁高(Φb)は900°Cで最大値(1.07eV)を示した。安定性については,925°Cで焼結したバリスタが,0.85E1mA/85°C/24hのDC加速エージングストレスに対して,%ΔE1mA=1.5%および%Δα=13.3%で,最も安定な加速エージング特性を示した。Copyright 2011 Springer Science+Business Media, LLC Translated from English into Japanese by JST.
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