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J-GLOBAL ID:201202231285546485   整理番号:12A0577590

誘導ESDに曝された情報ケーブルにおける過渡雑音の測定

Measurements of Transient Noise on Information Cable Exposed by Induced ESD
著者 (2件):
資料名:
巻: 36  号:ページ: 20-24  発行年: 2012年01月31日 
JST資料番号: S0175A  ISSN: 0386-2550  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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浮遊金属と近くの金属の間に0.1mm前後のギャップがあり,その間に周囲の静的な場の変動に依存する誘導が生じたとすると,ギャップに火花放電(誘導静電放電-ESD)が条件が合いさえすれば発生する。誘起ESDに近く曝露した種々の型の通信ケーブル上の誘導雑音波形の測定結果を報告,解析した。二重シールドSHF同軸ケーブルが高いレベルの雑音を拾うことを見出した。論理回路の誤動作を引き起こすのに十分な強さの雑音を測定した。この現象は標準的なIEC61000-4-2またはESDガン試験では再生または試験できない。
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分類 (1件):
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放電装置 
引用文献 (6件):
  • Electromagnetic compatibility (EMC)-Testing and measurement techniques-Electrostatic discharge immunity test. IEC 61000-4-2. 1998
  • HONDA, M. A new threat-EMI effect by indirect ESD on electronic equipment. IEEE Trans. Ind. Appl. 1989, 25, 939
  • HONDA, M. Energy dissipationn in electrostatic spark discharge and its distance effects. EOS/ESD Symposium Proceedings, 1987. 1987, 96
  • HONDA, M. Experimental analysis of EMI caused by charged human walking near by electronic System. EMC Europe 2010, Session ESD. 2010, 753
  • HONDA, M. Impulsive Fields caused by Low Voltage ESD. PIERS 2006-Tokyo. 2006
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