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J-GLOBAL ID:201202231623976210   整理番号:12A1764081

熱焼なまし後の非晶質イオン注入炭化ケイ素の再結晶

Recrystallization of amorphous ion-implanted silicon carbide after thermal annealing
著者 (5件):
資料名:
巻: 92  号: 10/12  ページ: 633-639  発行年: 2012年10月 
JST資料番号: T0360A  ISSN: 0950-0839  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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4MeV Auイオンを1015cm-2のフルエンスで注入した6H-SiC単結晶の焼なまし挙動を顕微Ramanと光学顕微鏡によって研究した。Ramanスペクトルは,照射した層が非晶質であり,6H-SiC結晶に関連するピークが完全に消えることを明らかにした。熱焼なまし後,6H-SiC結晶に関連する主ピークが再び現れて,焼なまし温度と共に増加するが,最初の試料の強度には達しなかった。全無秩序は約40%の残留損傷に飽和した。さらに,900°C以上での焼なましは照射層に応力を引き起こし,各種サイズと結晶状態の結晶子を産出した。Ramanスペクトルは1500°Cで黒鉛状ナノクラスタ形成の証拠を示している。
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分類 (2件):
分類
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塩  ,  その他の無機化合物の結晶成長 
タイトルに関連する用語 (5件):
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