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J-GLOBAL ID：201202231778365609   整理番号：12A0646482

多相SiCセラミックの多形の格子定数の決定におけるRietveld法の精度に及ぼす組成と結晶子サイズの効果

Effects of composition and crystallite size on the accuracy of the Rietveld method in determining lattice parameters of polytypes in multiphase SiC ceramics

著者 (4件)： HERNANDEZ-JIMENEZ Angel (Departamento de Ingenieria Mecanica, Energetica y de los Materiales, Universidad de Extremadura, 06006 Badajoz, ESP) ,  ORTIZ Angel L. (Departamento de Ingenieria Mecanica, Energetica y de los Materiales, Universidad de Extremadura, 06006 Badajoz, ESP) ,  SANCHEZ-BAJO Florentino (Departamento de Fisica Aplicada, Universidad de Extremadura, 06006 Badajoz, ESP) ,  GALAN Carlos A. (Departamento de Fisica Aplicada, Universidad de Extremadura, 06006 Badajoz, ESP)
資料名： Ceramics International  (Ceramics International)
巻： 38  号： 5  ページ： 4285-4293  発行年： 2012年07月 
JST資料番号： H0705A  ISSN： 0272-8842  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 多相SiCセラミックの多形の格子定数の決定におけるRietveld法の精度を多形の組成と多形結晶子サイズの関数として,計算機シミュレーションで得られた標準X線回折(XRD)パターンの二組のベンチマークを用いて詳しく調べた。Rietveld法は非常に正確であるが,格子定数の測定は多形の組成と多形の結晶子サイズに敏感であることがわかった。特に,与えられた多形についてRietveld計算した格子定数の精度はSiCセラミック中の多形の数の増加にともない低下するばかりでなく,他のタイプの多形の存在にも依存した。この二つの発見はXRDパターンの対応するピークのオーバーラップ現象の重大性に基いて説明された。加えて,Rietveld解析の正確さは多形の結晶子サイズの減少により低下し,これはピーク最大値の位置を明確にすることの困難さの増加とピークのオーバーラップのより大きな重要性によるものであり,両者とも対応するピークのブロードニングの結果となる。広範囲のミクロ組織の様相に対するRietveld計算の格子定数の信頼性の限界の確認はXRDによるSiCセラミックの将来のキャラクタリゼーションにとって重要な意味を持つであろう。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *炭化ケイ素 ,  *格子定数 ,  *Rietveld法 ,  *精度 ,  多形 ,  相組成 ,  結晶粒径 ,  計算機シミュレーション ,  X線回折 ,  ベンチマーク
準シソーラス用語： オーバラップ

分類 (1件)： その他の無機化合物の結晶構造  (BK07030J)

タイトルに関連する用語 (8件)： 多相 ,  SiC ,  セラミック ,  多形 ,  格子定数 ,  Rietveld法 ,  組成 ,  結晶子サイズ