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J-GLOBAL ID：201202232319625467   整理番号：12A0343219

シンクロトロン赤外ポートにおける雑音源の評価

Assessing noise sources at synchrotron infrared ports

著者 (18件)： LERCH Ph. (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  DUMAS P. (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  SCHILCHER T. (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  NADJI A. (Synchrotron SOLEIL, Gif-sur-Yvette, FRA) ,  LUEDEKE A. (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  HUBERT N. (Synchrotron SOLEIL, Gif-sur-Yvette, FRA) ,  CASSINARI L. (Synchrotron SOLEIL, Gif-sur-Yvette, FRA) ,  BOEGE M. (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  DENARD J.-C. (Synchrotron SOLEIL, Gif-sur-Yvette, FRA) ,  STINGELIN L. (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  NADOLSKI L. (Synchrotron SOLEIL, Gif-sur-Yvette, FRA) ,  GARVEY T. (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  ALBERT S. (ETH-Zuerich, Zuerich, CHE) ,  GOUGH Ch. (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  QUACK M. (ETH-Zuerich, Zuerich, CHE) ,  WAMBACH J. (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  DEHLER M. (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  FILHOL J.-M. (Synchrotron SOLEIL, Gif-sur-Yvette, FRA)
資料名： Journal of Synchrotron Radiation  (Journal of Synchrotron Radiation)
巻： 19  号： 1  ページ： 1-9  発行年： 2012年01月 
JST資料番号： W0763A  ISSN： 0909-0495  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シンクロトロン放射光源の赤外ポートにおける種々の雑音源とそれらが赤外分光研究に及ぼす影響を調べるために,スイスのSLSとフランスのSOLEILの赤外ポートで広い周波数範囲にわたり雑音を測定した。両ストレージリングの電子エネルギー,大きさ,性能は極めて似ている。また,同じストレージリングセクタにおけるビーム位置モニタ(BPM)とXBPM装置を用いて,光周波雑音スペクトルを測定した。第三世代の光源でも,雑音は赤外研究の重要な関心事であることを実証した。

シソーラス用語： *ストレージリング ,  シンクロトロン放射 ,  *雑音 ,  FTIR分光法 ,  周波数依存性 ,  監視装置 ,  スペクトル ,  *赤外光源 ,  放射光施設
準シソーラス用語： ビーム位置モニタ ,  雑音スペクトル

分類 (2件)： 電磁場中の粒子の運動及び放射  (BD01030Y) ,  円形加速器  (BE02020X)

タイトルに関連する用語 (5件)： シンクロトロン ,  赤外 ,  ポート ,  雑音源 ,  評価