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J-GLOBAL ID：201202232685455868   整理番号：12A1387307

半導体発光デバイスの信頼性研究-総論と1990年代以降のトピックス-

Study on Reliability of Semiconductor Optical Devices-General Remarks and Topics since the Early 1990s-

著者 (1件)： 上田修 (金沢工大 大学院工学研究科)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 112  号： 184(LQE2012 24-57)  ページ： 27-32  発行年： 2012年08月16日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 半導体発光デバイスは,大中容量ファイバ通信システム用の光源のみならず,オーディオ/ディジタルシステム,センシングシステム,医療機器用など,極めて多岐にわたる領域に用いられており,その材料・構造も多種多様となってきている。そのため,高性能で信頼性の高い製品を開発するには,発光デバイスの信頼性向上が重要な鍵を握っているといっても過言ではない。したがって,これら発光デバイスの信頼性に関する研究もその開発の黎明期である1970年代初頭から現在に至るまで,精力的に行われてきた。本講演では,発光デバイスの信頼性研究について,まず3つの主要な劣化モードを紹介した後,1990年代以降の主な研究成果(トピックス)について概説するとともに,残された課題についても議論する。(著者抄録)

シソーラス用語： *化合物半導体 ,  *窒化物 ,  *半導体レーザ ,  *発光ダイオード ,  劣化 ,  転位【結晶】 ,  点欠陥 ,  透過型電子顕微鏡 ,  *信頼性 ,  双極子 ,  ヒ化ガリウムアルミニウム ,  活性層 ,  内部応力 ,  積層欠陥
準シソーラス用語： 転位双極子 ,  CSPレーザ

分類 (1件)： 発光素子  (NC03082G)

タイトルに関連する用語 (2件)： 半導体発光デバイス ,  研究