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J-GLOBAL ID：201202233731136612   整理番号：12A0311414

赤外線シンクロトロン放射光光源を利用した散乱近視野光学顕微鏡分光分析装置の開発

Development of scattering near-field optical microspectroscopy apparatus using an infrared synchrotron radiation source

著者 (8件)： IKEMOTO Yuka ,  ISHIKAWA Michio ,  NAKASHIMA Satoru ,  OKAMURA Hidekazu ,  HARUYAMA Yuichi ,  MATSUI Shinji ,  MORIWAKI Taro ,  KINOSHITA Toyohiko
資料名： Optics Communications  (Optics Communications)
巻： 285  号： 8  ページ： 2212-2217  発行年： 2012年04月15日 
JST資料番号： A0678B  ISSN： 0030-4018  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 赤外線シンクロトロン放射光(IR-Sr)光源を利用するSPring-8で開発した散乱近接場顕微分光分析装置の状況を報告した。これは,散乱型走査近視野光学顕微鏡とFourier変換赤外分光計から成る。IR-Srは,高輝度で広帯域のIR光源として利用した。この装置には,回折限界以上の高空間分解能の近視野分光法に応用できるポテンシャルがあった。プローブシャフトおよび/またはサンプル表面からのバックグラウンド散乱を除去するために,高次高調波復調法を利用した。ロックイン検出を利用して,第二高調波素子により,近視野スペクトルを観測した。1000cm^-1(10μm波長)付近で約300nmの空間分解能を達成した。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *シンクロトロン放射 ,  走査型プローブ顕微鏡 ,  *走査光学顕微鏡 ,  エバネセント波 ,  *顕微分光分析 ,  赤外線 ,  光源 ,  光散乱 ,  分析機器 ,  Fourier変換 ,  放射光施設 ,  バックグラウンド
準シソーラス用語： SPring-8 ,  シンクロトロン放射光 ,  近接場光学顕微鏡 ,  高次高調波 ,  第二高調波

分類 (3件)： 光学的測定とその装置一般  (BD07010S) ,  分光分析  (CC03012W) ,  円形加速器  (BE02020X)

タイトルに関連する用語 (7件)： 赤外線 ,  シンクロトロン放射光 ,  散乱 ,  近視野 ,  光学顕微鏡 ,  分光分析 ,  開発