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J-GLOBAL ID:201202234701387919   整理番号:12A0777314

直鎖状低密度ポリエチレンフィルムの脆化での光酸化劣化に関する基礎的研究

A fundamental study on photo-oxidative degradation of linear low density polyethylene films at embrittlement
著者 (12件):
資料名:
巻: 53  号: 12  ページ: 2385-2393  発行年: 2012年05月25日 
JST資料番号: D0472B  ISSN: 0032-3861  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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フィルム脆化基準を,特性評価技術:引張,高温GPC,MAS-NMR,FTIR-ATR,WAXSおよびSAXSの範囲を使用して,直鎖状低密度ポリエチレン(LLDPE)フィルムの光酸化分解のために決定した。キー脆化基準は,鎖切断反応から生成した移動短鎖フラグメントの再結晶化の結果としての破断時95%伸びの損失および層間距離の減少,すなわち約30-50Åまでの低下となった。引張データに見られる二重降伏点の変化と良好に相関するラメラ間薄化は,ラメラが第二降伏点の不在はラメラ界面でのタイ分子の切断を受け,ラメラ結晶のc軸スリップに到達するために引張応力を移動すらできなくなっていることを示した。これは,線形相関関数を用いた小角X線散乱データから抽出されたエージング時間をもつ,非晶ラメラ界面幅の減少にもサポートされていた。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (1件):
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高分子の分解,劣化 
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