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J-GLOBAL ID:201202234725375148   整理番号:12A0554340

Fe/Tb薄膜におけるFe 2p XPSスペクトルの膜厚及び温度依存性

Dependence of the Fe 2p XPS spectra on the thickness and temperature in Fe/Tb thin films
著者 (2件):
資料名:
巻: 60  ページ: 33-40  発行年: 2012年02月14日 
JST資料番号: F0642A  ISSN: 0017-5668  CODEN: GDSHAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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Tbバルク上に各種膜厚のFe薄膜を作製し,Fe 2p内殻準位XPSスペクトルの膜厚依存性を研究した。その結果,Fe膜厚の増加に伴い,Fe 2p3/2準位線の結合エネルギー位置がシフトすることを観測した。TbとFeとの界面近傍で,Feの電子配置が変化した。この変化は,Tb側及びFe側とも,界面から0.8nm程度の範囲までにしか及ばない可能性を示した。室温では,2.0nmからの膜厚の減少と共に,Fe 2p3/2準位線の結合エネルギーが減少することから,界面に近づくにつれて,Fe薄膜内の電荷密度が増加することが分かった。
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分類 (3件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
金属薄膜  ,  電子分光スペクトル  ,  表面の電子構造 

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