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J-GLOBAL ID：201202235023608949   整理番号：12A1727514

原子パターンのシフト 走査型トンネル顕微鏡法で観測した黒鉛の異なる原子スケールパターンの起源

Shifting atomic patterns: on the origin of the different atomic-scale patterns of graphite as observed using scanning tunnelling microscopy

著者 (2件)： WONG H S (Univ. Cambridge, Cambridge, GBR) ,  DURKAN C (Univ. Cambridge, Cambridge, GBR)
資料名： Nanotechnology  (Nanotechnology)
巻： 23  号： 18  ページ： 185703,1-7  発行年： 2012年05月11日 
JST資料番号： W0108A  ISSN： 0957-4484  CODEN： NNOTER  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 第一原理計算と,走査型トンネル顕微鏡実験から得られる高分解原子画像を組み合わせて,走査型トンネル顕微鏡法でしばしば,または稀に観測される多様な原子パターンが,走査チップに応答した横方向表面変位と(または)層間結合の変化の結果であることを明かにした。

シソーラス用語： *走査型トンネル顕微鏡 ,  顕微鏡観察 ,  *高分解能 ,  画像 ,  計算 ,  ab initio法 ,  *グラファイト ,  炭素材 ,  *ナノ構造 ,  単一層 ,  密度 ,  表面電荷 ,  グラフェン
準シソーラス用語： 走査型トンネル顕微鏡法 ,  高分解能画像 ,  第一原理計算 ,  表面電荷密度

分類 (3件)： 原子・分子のクラスタ  (BH09030O) ,  非金属元素とその化合物の結晶構造  (BK07010N) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (7件)： 原子 ,  シフト ,  走査型トンネル顕微鏡法 ,  観測 ,  黒鉛 ,  原子スケール ,  起源