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J-GLOBAL ID：201202235171620362   整理番号：12A1371537

過渡回折格子法による再吸収フリー励起状態の寿命測定

Free of reabsorption upper-state lifetime measurements by the method of transient gratings

著者 (1件)： KISIALIOU Ivan G.
資料名： Applied Optics  (Applied Optics)
巻： 51  号： 22  ページ： 5458-5463  発行年： 2012年08月01日 
JST資料番号： B0026B  ISSN： 1559-128X  CODEN： APOPAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 吸収バンドと放射バンドが部分的にオーバーラップする固体レーザ利得媒質において,光再吸収と放射トラッピングは蛍光減衰に顕著に影響する。本論文では,過渡回折格子法を利用して,レーザ材料での励起状態の寿命測定を検討した。薄層での再吸収の表現のための理論モデルを開発した。ある条件では,再吸収は屈折率格子の過渡応答時間に影響せず,実励起状態寿命を評価できることが分かった。この技術の有効性を実証する実験をいくつか示した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *スペクトロスコピー ,  光トラッピング ,  固体レーザ ,  吸収バンド ,  応答時間 ,  蛍光減衰 ,  *励起状態 ,  過渡応答 ,  光吸収スペクトル ,  *蛍光寿命 ,  *レーザ材料
準シソーラス用語： *過渡回折格子法 ,  理論モデル

分類 (2件)： 分光法と分光計一般  (BD07041Q) ,  ルミネセンス一般  (BM08091B)

タイトルに関連する用語 (4件)： 過渡回折格子法 ,  再吸収 ,  励起状態 ,  寿命測定