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J-GLOBAL ID:201202235233889797   整理番号:12A1295274

埋設高分子/金属界面での分子配向の直接確認-2:P-分極した入力ビームの使用

Directly Probing Molecular Ordering at the Buried Polymer/Metal Interface 2: Using P-Polarized Input Beams
著者 (8件):
資料名:
巻: 45  号: 15  ページ: 6087-6094  発行年: 2012年08月14日 
JST資料番号: B0952A  ISSN: 0024-9297  CODEN: MAMOBX  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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高分子/金属界面における分子構造を精査理解することより,マイクロエレクトロニクス,耐食コーティングなど多くの応用分野でのそれら界面の所望特性を最適化するうえで,重要な情報を得られる。高分子/金属界面は埋設されているので,分子構造を理解する最善の方法は,界面を破壊することなく,非破壊キャラクタリゼーション技術を駆使し,直接,その場観察することである。以前,埋設高分子/金属界面を,in situ調査するために,和周波数発生(SFG)振動分光法を用いる数種の方法を開発した。そこでは,金属表面に厚みの異なる高分子薄膜を堆積する方法,または,金属表面と石英ガラスウィンドウ間に高分子薄膜をはさむ方法に依った。本研究では,一例として,ポリメタクリル酸エチル(PEMA)/銀(Ag)界面を用いて,pppSFGスペクトル収集による高分子/金属界面を直接確認する新規でより簡便な方法を開発した。金属上の高分子薄膜に対して,支配的なSFG信号は,空気と接する高分子表面や高分子金属界面からの寄与であり,ポリマーそのものからの寄与は無視できた。以前,sspスペクトルが高分子/空気および高分子/金属界面による両方の寄与によると,著者らは示した。ここでは,SFGpppスペクトルは,埋設高分子/金属界面からの信号により支配されることを証明できたので,埋設界面に関する構造的情報を推定できた。PEAG/Ag埋設界面におけるメチル基の配向情報はpppスペクトル中のメチル基の対称および非対称振動モードの観測値より,直接推算できた。そこでは,異なる膜厚の高分子膜より,SFGスペクトルを収集する必要はなかった。SFGにより埋設高分子/金属界面を精査するこの方法は,以前のサンプル調製法やデータ解析方法と比較して,相対的に簡便であった。
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分類 (1件):
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高分子固体のその他の性質 

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