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J-GLOBAL ID：201202235521995410   整理番号：12A0345147

物理的条件を意識したN検出テスト

Physically-Aware N-Detect Test

著者 (9件)： LIN Yen-Tzu (Carnegie Mellon Univ., PA, USA) ,  LIN Yen-Tzu (NVIDIA Corp., CA, USA) ,  POKU Osei (Carnegie Mellon Univ., PA, USA) ,  BHATTI Naresh K. (Carnegie Mellon Univ., PA, USA) ,  BHATTI Naresh K. (Mentor Graphics, CA, USA) ,  BLANTON R. D. (Carnegie Mellon Univ., PA, USA) ,  NIGH Phil (IBM, VT, USA) ,  LLOYD Peter (IBM, VT, USA) ,  IYENGAR Vikram (IBM Test Methodology, PA, USA)
資料名： IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems  (IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻： 31  号： 2  ページ： 308-321  発行年： 2012年02月 
JST資料番号： B0142C  ISSN： 0278-0070  CODEN： ITCSDI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： スタック故障に基づくテスト生成法は広く行われているが,進歩した製造技術においては充分でない。既存のテスト方法の中では,PAN(物理的条件を意識したN検出テスト)がテスト開発コストをあまり上げることなくテスト品質を向上できる。この方法は,レイアウト情報を用いてモデル化されない欠陥を活性化する可能性のある条件を探索することにより,テスト品質を上げるもので,一般的な方法であり特定の欠陥を前提としない。本論文の方法PATSを90nmテストチップとIBM130nmASICの2種の例に適用して,その有効性を確認した。

シソーラス用語： *試験 ,  CAD【計算機】 ,  *故障検出 ,  *ASIC ,  レイアウト ,  回路試験器
準シソーラス用語： ATPG ,  *テスト生成

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 物理 ,  意識 ,  テスト