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J-GLOBAL ID：201202237497717180   整理番号：12A1381907

シリコンドリフト検出器を用いたWDS精度及び正確度におけるX線強度のEDS測定

EDS Measurements of X-Ray Intensity at WDS Precision and Accuracy Using a Silicon Drift Detector

著者 (3件)： RITCHIE Nicholas W.M. (National Inst. Standards and Technol., MD, USA) ,  NEWBURY Dale E. (National Inst. Standards and Technol., MD, USA) ,  DAVIS Jeffrey M. (National Inst. Standards and Technol., MD, USA)
資料名： Microscopy and Microanalysis  (Microscopy and Microanalysis)
巻： 18  号： 4  ページ： 892-904  発行年： 2012年08月 
JST資料番号： W1587A  ISSN： 1431-9276  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Reed-Wareの主張を,全出力範囲に亘って優れたピークチャネル及びピーク幅安定性をもつ約10%のデッドタイムにおいて100000cpsの結合スループットが可能な,四つの整合シリコンドリフト検出器(SDD)の高性能アレイを用いて再評価した。厳密な比較を可能にするために,SDD測定を,ビーム安定性及び試料不均一性のような多くの変動の源を排除するために,波長分散分光計(WDS)測定と同時に行った。大きな干渉の場合でも,高カウントSDDスペクトルは,ガラスにおけるTiを正確に測定できることを実証した。

シソーラス用語： *X線 ,  計測 ,  *エネルギー分散X線分光分析 ,  検出器 ,  ケイ素 ,  *チタン ,  ガラス
準シソーラス用語： *強度測定 ,  波長分散分光計 ,  *シリコンドリフト検出器

分類 (1件)： 放射線計測・計測器一般  (AD08010Y)

タイトルに関連する用語 (5件)： シリコンドリフト検出器 ,  WDS ,  正確度 ,  X線 ,  EDS