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J-GLOBAL ID：201202237575935157   整理番号：12A1570931

近接共通経路の自己参照定量位相顕微鏡

Near-Common-Path Self-Reference Quantitative Phase Microscopy

著者 (5件)： HILLMAN Timothy R. (Massachusetts Inst. Technol., MA, USA) ,  LUE Niyom (Massachusetts Inst. Technol., MA, USA) ,  SUNG Yongjin (Massachusetts Inst. Technol., MA, USA) ,  DASARI Ramachandra R. (Massachusetts Inst. Technol., MA, USA) ,  YAQOOB Zahid (Massachusetts Inst. Technol., MA, USA)
資料名： IEEE Photonics Technology Letters  (IEEE Photonics Technology Letters)
巻： 24  号： 17-20  ページ： 1812-1814  発行年： 2012年09月01日 
JST資料番号： T0721A  ISSN： 1041-1135  CODEN： IPTLEL  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 生体サンプルの高感度の位相プロファイルを生成するために,簡単なアプローチである共通経路の自己参照定量位相顕微鏡(SrQPM)を示した。SrQPMはサンプルの視野を制限したが,提案のセットアップは,低雑音の動的位相計測のための共通経路配置や二重位相プロファイルの同時の計測と組み合わせによる位相雑音低減という利点を示した。また,顕微鏡対照を単に交換することによって容易に光倍率を改良する能力,および光学における非専門家にとってアクセスしやすくしてどんなメンテナンスも必要としない単純なモジュール設計などの利点も示した。狭いマイクロチャネルが光学的にフラットなバックグラウンド領域によって囲まれたマイクロ流体デバイスを,自己参照アプローチのための理想的なターゲットとした。

シソーラス用語： *顕微鏡 ,  *位相 ,  流体素子 ,  モジュラ設計 ,  雑音低減 ,  集合 ,  高感度 ,  雑音 ,  マイクロ流体デバイス
準シソーラス用語： プロファイル ,  モジュール設計 ,  低雑音

分類 (1件)： 光学的測定とその装置一般  (BD07010S)

タイトルに関連する用語 (6件)： 経路 ,  自己 ,  参照 ,  定量 ,  位相 ,  顕微鏡