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J-GLOBAL ID:201202237753801372   整理番号:12A0683566

PZT電極縁微小き裂の電界誘起変形とき裂進展

著者 (3件):
資料名:
巻: 50th  ページ: ROMBUNNO.211  発行年: 2012年02月28日 
JST資料番号: L0015B  ISSN: 2424-2764  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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PZT圧電セラミックスに部分電極を作製し,繰返し電圧を負荷することで電極縁に沿う微小き裂からの進展挙動について電界幅,環境の影響の2点から調査した。き裂は繰返し電界によりある程度伝ぱした後,停留した。負荷電圧幅が大きくなるとき裂長さ,伝ぱ速度ともに大きくなることが分かった。また,温度20°C一定で湿度を変化させた時に比べ,湿度40%一定で温度を変化させた方がき裂進展速度,き裂停留長さに及ぼす影響が大きいことが分かった。(著者抄録)
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分類 (2件):
分類
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固体デバイス材料  ,  金属材料 

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