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J-GLOBAL ID：201202238430832887   整理番号：12A0619781

GREDA:高速でより正確なゲート信頼性EDAツール

GREDA: A Fast and More Accurate Gate Reliability EDA Tool

著者 (4件)： IBRAHIM Walid (United Arab Emirates Univ., Abu Dhabi, ARE) ,  IBRAHIM Walid (Carleton Univ., ON, CAN) ,  BEIU Valeriu (United Arab Emirates Univ., Abu Dhabi, ARE) ,  BEG Azam (United Arab Emirates Univ., Abu Dhabi, ARE)
資料名： IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems  (IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻： 31  号： 4  ページ： 509-521  発行年： 2012年04月 
JST資料番号： B0142C  ISSN： 0278-0070  CODEN： ITCSDI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 筆者等が既報で述べたゲート信頼性EDAツールのGREDAは,CMOSゲートのPF(故障確率)を他システムよりも正確に計算し,またモンテカルロシミュレーションに比べてきわめて高速である。また,しきい値電圧が信頼性に及ぼす影響を評価することができる。本文ではGREDAの拡張について述べる。すなわち,単一のCMOS故障のみではなく,異ったデバイス故障の組合せ効果を計算できる。トランジスタのスタックオン/オフ,その組合せ,配線障害,ブリッジ等をモデル化でき,入力信号が誤りを含む場合も対象になる。

シソーラス用語： 論理回路 ,  CMOS構造 ,  *回路設計 ,  *CAD【計算機】 ,  信頼性 ,  故障率 ,  電圧 ,  *故障解析 ,  ネットワーク ,  Bayes推定 ,  ナノテクノロジー
準シソーラス用語： Bayesianネットワーク ,  *CMOS論理回路 ,  *EDA ,  閾値電圧

分類 (1件)： 集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (3件)： ゲート ,  EDA ,  ツール