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J-GLOBAL ID：201202239080220189   整理番号：12A1381879

収差補正電子顕微鏡世紀のはじめの年

The First Years of the Aberration-Corrected Electron Microscopy Century

著者 (1件)： BATSON Philip E. (Rutgers Univ., NJ, USA)
資料名： Microscopy and Microanalysis  (Microscopy and Microanalysis)
巻： 18  号： 4  ページ： 652-655  発行年： 2012年08月 
JST資料番号： W1587A  ISSN： 1431-9276  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電子顕微鏡の分野における最近の発展状況を概観した。新しい世紀のはじめのこの10年間は,収差補正技術の発展が,電子顕微鏡技術を変貌させた。この背景の下に,アメリカ顕微鏡学会は,収差補正電子顕微鏡に焦点を絞った団体を組織し,収差補正に関連した最近の発展,結果,及び実用的な問題を議論してきた。議論は,新しい性能の報告,収差係数を測定する新しい方法の議論,収差補正により可能となる新しい解析信号,及び収差補正条件下におけるその場作業などの分野に亘った。

シソーラス用語： *電子顕微鏡 ,  *収差補正 ,  性能 ,  係数 ,  解析信号
準シソーラス用語： 収差係数

分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (2件)： 収差補正 ,  電子顕微鏡