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J-GLOBAL ID：201202239302520968   整理番号：12A1549195

次世代有機薄膜技術の新潮流 X線を用いた有機薄膜の分析

著者 (2件)： 西郷真理 (リガク X線研 応用技セ) ,  稲葉克彦 (リガク X線研 応用技セ)
資料名： 化学工業  (Chemical Industry)
巻： 63  号： 11  ページ： 869-877  発行年： 2012年11月01日 
JST資料番号： F0101A  ISSN： 0451-2014  CODEN： KAKOA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 有機薄膜材料は,その軽量性や機械的なフレキシブル性の特徴を活かして,有機EL,有機TFT,及び有機太陽電池などの様々な電子・光デバイス応用に利用されている。X線を用いた有機薄膜の分析に関し,下記事項などについて解説した。1)X線分析に利用される現象とX線による評価の特徴(屈折,吸収,回折),2)X線回折装置を用いた薄膜の評価方法,3)装置の構成と薄膜X線回折測定の幾何配置模式図,4)光学系と光学素子及び検出部,5)有機薄膜材料の主な評価技法,a)斜入射X線回折法,b)膜厚・密度・表面や界面の粗さの評価,5)Out-of-Plane測定及びIn-Plane測定による応用事例,a)ペンタセンの配向評価,b)銅フタロシアニン薄膜の3次元配向評価,c)X線反射率測定とIn-Plane測定を組合わせた単分子薄膜の評価。

シソーラス用語： *法線 ,  *X線回折 ,  薄膜トランジスタ ,  *有機半導体 ,  *光学素子 ,  *性能分析 ,  屈折 ,  吸収 ,  回折 ,  *表面構造 ,  構造解析法 ,  *分子配向 ,  ポリアセン
準シソーラス用語： *格子面法線 ,  *Out-of-Plane測定 ,  *In-Plane測定 ,  有機TFT ,  *光デバイス ,  *特性解析 ,  *界面構造 ,  配向性

分類 (2件)： X線回折法  (BK01020I) ,  有機化合物の薄膜  (BK14070L)

物質索引 (2件)： ペンタセン ,  銅フタロシアニン

タイトルに関連する用語 (5件)： 次世代 ,  有機薄膜 ,  潮流 ,  X線 ,  分析