文献

J-GLOBAL ID：201202239773698570   整理番号：12A1304475

配向および非配向ポリテトラフルオロエチレン膜における電荷の貯蔵と輸送

Charge Storage and Transport in Oriented and Non-oriented Polytetrafluoroethylene Films

著者 (6件)： CAO Gongxun (Tongji Univ., Shanghai, CHN) ,  ZHANG Xiaoqing (Tongji Univ., Shanghai, CHN) ,  ZHAO Da (Florida State Univ., FL, USA) ,  ZHANG Chuck (Florida State Univ., FL, USA) ,  WANG Ben (Florida State Univ., FL, USA) ,  ZENG Changchun (Florida State Univ., FL, USA)
資料名： IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation  (IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation)
巻： 19  号： 4  ページ： 1108-1115  発行年： 2012年08月 
JST資料番号： W0578A  ISSN： 1070-9878  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 帯電したポリテトラフルオロエチレン(PTFE)膜は優れた電荷貯蔵性を持つため,マイクロホン,放射線量計測や空気フィルタなど様々な分野で使われている。本稿では,配向PTFE膜と非配向PTFE膜の電荷貯蔵性と電荷輸送について等温減衰と熱刺激による放電(TSD)を調べた。電荷は室温(RT)でのコロナ放電法により充電した。結晶性は示差走査熱量測定(DSC)により調べた。配向PTFE膜中の電荷安定性は,非配向PTFE膜より大幅によいことが分かった。これは多分配向PTFE膜の結晶性が高いためである。熱刺激により起こる配向PTFE膜中のデトラップ正電荷の輸送は,熱イオン放射を考慮したモデルで説明できる。

シソーラス用語： *ポリテトラフルオロエチレン ,  *帯電 ,  *分子配向 ,  線量測定 ,  マイクロホン ,  示差走査熱量測定 ,  コロナ放電 ,  熱刺激 ,  安定性 ,  結晶度 ,  イオン ,  電気伝導
準シソーラス用語： 結晶性 ,  電荷貯蔵 ,  電荷輸送 ,  熱イオン ,  配向【分子】 ,  放射線量計測

分類 (2件)： ポリオレフィン  (YH07090L) ,  固体デバイス材料  (NC03020K)

タイトルに関連する用語 (5件)： 配向 ,  ポリテトラフルオロエチレン膜 ,  電荷 ,  貯蔵 ,  輸送