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J-GLOBAL ID:201202239903272406   整理番号:12A0942956

生体分子損傷の“その場修復”の研究のための高圧雰囲気下における放射光電子分光・二次イオン質量分析法の開発

Development of a Synchrotron Radiation Aided PES/SIMS under a High Ambient Vapor Pressure as the Spectroscopy for the Induction and Repair Processes of Radiation Damage
著者 (6件):
資料名:
号: 2010-071  ページ: 5 (WEB ONLY)  発行年: 2011年02月 
JST資料番号: U0296A  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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液相分子の放射線損傷・修復過程を,溶媒和が規定する分子構造に...
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分類 (3件):
分類
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生体物質に対する影響  ,  有機化合物・錯体の電子分光スペクトル(分子)  ,  有機化合物の物理分析 
引用文献 (9件):
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