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J-GLOBAL ID：201202240108197461   整理番号：12A0620259

干渉性トポロジー欠陥に基づくスピン依存性プラズモニクス

Spin-Dependent Plasmonics Based on Interfering Topological Defects

著者 (4件)： SHITRIT Nir (Technion - Israel Inst. of Technol., Haifa, ISR) ,  NECHAYEV Sergey (Technion - Israel Inst. of Technol., Haifa, ISR) ,  KLEINER Vladimir (Technion - Israel Inst. of Technol., Haifa, ISR) ,  HASMAN Erez (Technion - Israel Inst. of Technol., Haifa, ISR)
資料名： Nano Letters  (Nano Letters)
巻： 12  号： 3  ページ： 1620-1623  発行年： 2012年03月 
JST資料番号： W1332A  ISSN： 1530-6984  CODEN： NALEFD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 光学的トポロジカル欠陥(渦)が近接場におけるプラズモニクスにおよぼす影響を理論検討した。ナノアンテナ点の局在渦による表面プラズモン散乱により生じる,軌道角運動量(OAM)が入射光スピンに等しい渦波前端のスピン-軌道相互作用点分布関数の集合による巨視的なスピン依存性のプラズモニック焦点レンズモデルを導いた。金薄膜のFIBエッチングにより作製したナノ構造の円偏光照射による表面プラズモン波を近接場走査型光学顕微鏡により観測し,光干渉パターンを求め,渦波の存在を確かめた。

シソーラス用語： *光干渉 ,  *欠陥 ,  *表面プラズモン ,  *渦 ,  近接場 ,  センサ ,  角運動量 ,  集団模型 ,  *スピン-軌道相互作用 ,  分布関数 ,  レンズ ,  金属薄膜 ,  集束イオンビーム ,  イオンエッチング ,  ナノ構造 ,  円偏光 ,  走査光学顕微鏡 ,  干渉縞
準シソーラス用語： FIB【ビーム】 ,  イオンビームエッチング ,  スピン依存性 ,  *トポロジー的欠陥 ,  ナノアンテナ ,  *プラズモニクス ,  干渉パターン ,  軌道角運動量 ,  局在プラズモン ,  金薄膜 ,  走査型光学顕微鏡 ,  入射光

分類 (4件)： 光デバイス一般  (BD06010L) ,  固体プラズマ  (BM02160W) ,  固-気界面一般  (CB12041H) ,  分子・遺伝情報処理  (JE15040B)

タイトルに関連する用語 (4件)： 干渉性 ,  トポロジー欠陥 ,  スピン依存性 ,  プラズモニクス