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J-GLOBAL ID:201202240947989705   整理番号:12A0269257

均質分子ビームエピタキシーにおける原子精度のSrTiO3(110)薄膜のカチオンストイキオメトロリー最適化

Cation stoichiometry optimization of SrTiO3 (110) thin films with atomic precision in homogeneous molecular beam epitaxy
著者 (8件):
資料名:
巻: 100  号:ページ: 051602  発行年: 2012年01月30日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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カチオン濃度比で決定したSrTiO3(110)上の表面再構成の進展を研究し,最高800°Cの高温においてさえも高速電子回折(RHEED)により検出できることが分かった。SrTiO3(110)薄膜の拡張均質酸化物分子ビームエピタキシー時に,SrとTi源の蒸発率は,RHEEDパターンをその場のリアルタイムでモニタリングすることにより,正確にキャリブレーションできる。高品質薄膜が0.5%以下のカチオンストイキオメトリーの偏差で得られた。(翻訳著者抄録)
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分類 (1件):
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酸化物薄膜 
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