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J-GLOBAL ID：201202242854915747   整理番号：12A1226165

動的光散乱と微分移動度分析計の計測器研究

A Gauge Study for Dynamic Light Scattering and Differential Mobility Analyzer Instruments

著者 (4件)： WANG F. K. (National Taiwan Univ. of Sci. and Technol., Taipei, TWN) ,  CHERN H. L. (National Taiwan Univ. of Sci. and Technol., Taipei, TWN) ,  CHERN H. L. (Bureau of Standards, Metrology and Inspection, Ministry of Economic Affairs, Taipei, TWN) ,  YU T. C. (Industrial Technol. Res. Inst., Hsinchu, TWN)
資料名： Journal of Testing and Evaluation  (Journal of Testing and Evaluation)
巻： 40  号： 4  ページ： 580-585  発行年： 2012年07月 
JST資料番号： B0721B  ISSN： 0090-3973  CODEN： JTEVAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 計測器の繰返し性と再現性(GR&R)の研究に基づいてナノ粒子に適した二つの測定計器,動的光散乱(DLS)計器と微分移動度分析(DMA)計,の性能を評価した。ナノ粒子のサイズ測定に一般に用いられる両計器の特徴とGR&R研究の評価に用いた混合モデルを説明した。公称直径76nmと10nmの2種のナノ粒子のサイズの測定結果から両計器の性能を比較した。結果は,DMA計器がDLS計器より優れた性能を示したが,DLSとDMAの計器はともに%GR&Rを測度としたナノ粒子の測定に不適切であることが示した。DMA計器はナノテクノロジーの分野の多くの応用で発展する可能性を示した。

シソーラス用語： 動的光散乱 ,  分析機器 ,  移動度 ,  測定精度 ,  再現性 ,  性能評価 ,  *ナノ粒子 ,  *粒度分析 ,  モデル ,  *計測器
準シソーラス用語： 繰返し性 ,  混合モデル ,  *粒径測定

分類 (1件)： 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O)

タイトルに関連する用語 (6件)： 動的光散乱 ,  微分 ,  移動度 ,  分析計 ,  計測器 ,  研究