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J-GLOBAL ID:201202242931134532   整理番号:12A1440891

界面構造特性の改善されたCo2MnSi電極とMgOの障壁層を備えたエピタキシャル堆積型磁気トンネル接合における高スピン偏極トンネリング

Highly Spin-Polarized Tunneling in Epitaxial Magnetic Tunnel Junctions with a Co2MnSi Electrode and a MgO Barrier with Improved Interfacial Structural Properties
著者 (6件):
資料名:
巻: 51  号: 9,Issue 1  ページ: 093004.1-093004.9  発行年: 2012年09月25日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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Heusler合金のCo2MnSi電極とMgO障壁を備え,様々な層構造を持つ磁気トンネル接合(MTJ)を,MgOバッファー層を含むMgO(001)基板上にエピタキシャル成長させ,Co2MnSiの半金属性とコヒーレントトンネリングを明らかにできるこれらのMTJのスピンに依存するトンネル特性に対するコヒーレントトンネリングの寄与を解明した。Co50Fe50(CoFe)/MgO/Co2MnSi,あるいはCoFeのバッファ層を持つCo2MnSi/MgO/CoFeから成るMTJは,殆ど同じ特性を持ち,それぞれトンネル磁気抵抗(TMR)比は大きく,335%(290K)(4.2Kでは1049%),そして340%(290K)(4.2Kでは879%)であることが分かった。対照的に,MgOのバッファ層を持つCo2MnSi/MgO/CoFeから成るMTJのTMR比は小さく,173%(290K)(4.2Kにおいて448%)であることが分かった。CoFe/MgO/Co2MnSiから成るMTJおよびCoFeのバッファ層を持つCo2MnSi/MgO/CoFeから成るMTJに関して得られる大きなTMR比は,MgO障壁の底部および上部界面における不整合転位密度の低下に起因するコヒーレントトンネリングの寄与の増大に帰着できる。(翻訳著者抄録)
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分類 (1件):
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JSTが定めた文献の分類名称とコードです
金属-絶縁体-金属構造 

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