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J-GLOBAL ID：201202243585186730   整理番号：12A1121416

選択電磁クローキング構造の数値モデリングおよび特性評価(招待論文)

Numerical Modeling and Characterization of Selected Electromagnetic Cloaking Structures

著者 (2件)： ALITALO Pekka (Aalto Univ., Aalto, FIN) ,  TRETYAKOV Sergei A. (Aalto Univ., Aalto, FIN)
資料名： International Journal of RF and Microwave Computer-Aided Engineering  (International Journal of RF and Microwave Computer-Aided Engineering)
巻： 22  号： 4  ページ： 483-495  発行年： 2012年07月 
JST資料番号： W0335A  ISSN： 1096-4290  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 最近関心の高い電磁クローキングにおいて,クローキングは対象物の実効散乱断面積を散乱発生の全方向において減少できる。電磁場プローブに対して対象物を検出不能にすることは,無数の応用をもつ。本論文では,2タイプの電磁クロークである,伝送線路クロークおよび金属板クロークの数値,実験モデリングおよび特性評価を議論した。対象物の電磁クローキングが,散乱場および全散乱断面積に関し何を意味するかを定義し,簡単で一様あるいは周期的構造を,いかに数値解析し散乱挙動を特性評価するかを実証した。性能指数の適切な選択を議論し,適切なパラメータは全散乱断面積あるいは幅であることを示した。このパラメータの直接計算,測定には,全散乱方向に対する散乱場の決定が必要であった。前方散乱理論を用い,前方向での散乱場の知識に基づき全消光比を推定できた。

シソーラス用語： *電磁場 ,  光学材料 ,  キャラクタリゼーション ,  *伝送線路 ,  金属板 ,  周期構造 ,  性能指数 ,  パラメータ ,  前方散乱 ,  消光比
準シソーラス用語： *クローキング【光学材料】 ,  散乱場 ,  *散乱断面積 ,  数値モデリング ,  特性評価

分類 (2件)： 固体デバイス材料  (NC03020K) ,  光の散乱,回折,干渉  (BD03030M)

タイトルに関連する用語 (3件)： 数値モデリング ,  特性評価 ,  論文