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J-GLOBAL ID:201202243670827191   整理番号:12A1444974

走査型マイクロ波顕微鏡法による金属試料内の特定な埋め込まれた欠陥を検出するための非破壊技術

Non-destructive technique to detect local buried defects in metal sample by scanning microwave microscopy
著者 (6件):
資料名:
巻: 186  ページ: 219-222  発行年: 2012年10月 
JST資料番号: B0345C  ISSN: 0924-4247  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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表皮効果に基づいて,走査型マイクロ波顕微鏡法を用いた,ステンレス鋼のような金属試料の中にある,埋め込まれた欠陥を検出するための非破壊方式の,最近の進展を提示した。3Dトモグラフィーは,帯域周波数内でベクトルネットワークアナライザを使用するマイクロ波計測と,原子間力顕微鏡法を使ったナノメートル分解能の位置決め機能を利用することにより可能である。各々の使用される周波数において,入射電磁波はサンプルに送信され,その反射波は,材料中の特定深度の層についての情報を与える。ナノテクノロジーの診断ツール(SEM,AFM,他)を使い,特定の埋め込まれた欠陥を示している,種々のステンレス鋼サンプル(Areva NP社からの)を調べる。この研究で使用した試料は,最も用途が多く,広く使われている,304スレンレス鋼のような,通常のステンレス鋼である。これらの試料に適用したトモグラフィーの結果は,表皮効果方程式と一致する。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (2件):
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非破壊試験  ,  顕微鏡法 
タイトルに関連する用語 (3件):
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