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J-GLOBAL ID：201202243731257830   整理番号：12A1162014

ディップ法で酸化銅薄膜をコーティングした各種基板の物理的性質評価

Physical properties evaluation of various substrates coated cupric oxide thin films by dip method

著者 (2件)： DHANASEKARAN V. (Dep. of Physics, Alagappa Univ., Karaikudi 630 003, IND) ,  MAHALINGAM T. (Dep. of Physics, Alagappa Univ., Karaikudi 630 003, IND)
資料名： Journal of Alloys and Compounds  (Journal of Alloys and Compounds)
巻： 539  ページ： 50-56  発行年： 2012年10月25日 
JST資料番号： D0083A  ISSN： 0925-8388  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ガラス,インジウムをドープした酸化スズ(ITO),シリコン及びポリマー等の各種基板にディップコーティングした酸化銅(CuO)膜について報告した。膜厚は520~640nmであった。構造的,形態的,光学的,トポロジー的性質を調べた。X線回折から析出した膜は多結晶質の単斜晶構造で,(-111)面に優先配向していた。結晶子の大きさ,転位密度,マイクロ歪み及び積層欠陥確率を計算し,詳細に考察した。表面形態と元素分析を走査型電子顕微鏡とエネルギー分散X線分光で調べた。ガラス基板に作製した膜の表面はナノシート状粒子に覆われた均一な形態を示した。CuO膜の光学特性をUV-Vis-NIR波長領域で,透過と線吸収係数で分析した。Taucプロットから,ガラス基板の膜のバンドギャップは1.08eVであった。光学伝導度,平均励起エネルギー,振動子強度,有効質量,プラズマ周波数,静的誘電定数及びキャリア濃度を薄膜の透過スペクトルを用いて,確立された手順で開発した近似アルゴリズムを用いて推定した。各種基板はCuO膜の構造,表面,光学的及び形態学的特性に強く影響することを示した。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *酸化銅 ,  酸化物 ,  *薄膜 ,  浸漬塗装 ,  *基板 ,  ガラス ,  酸化インジウムスズ ,  ケイ素 ,  重合体 ,  物理的性質 ,  *結晶構造 ,  *光学的性質 ,  位相幾何学 ,  多結晶 ,  単斜晶系 ,  優先配向 ,  *転位密度 ,  歪 ,  積層欠陥 ,  *表面構造 ,  光透過 ,  バンドギャップ ,  *キャリア密度 ,  硫酸銅 ,  水酸化ナトリウム
準シソーラス用語： ITO ,  キャリア濃度 ,  シリコン ,  ディップコーティング ,  トポロジー ,  ポリマ ,  酸化物薄膜 ,  微小歪 ,  表面形態

分類 (4件)： 酸化物薄膜  (BK14050P) ,  金属酸化物及び金属カルコゲン化物の結晶構造  (BK07020Y) ,  光物性一般  (BM08010A) ,  その他の無機化合物の電気伝導  (BM03044O)

タイトルに関連する用語 (6件)： ディップ ,  酸化 ,  銅薄膜 ,  コーティング ,  物理的性質 ,  評価