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J-GLOBAL ID：201202245076842183   整理番号：12A0334359

ZnTeナノワイヤの熱破壊

Thermal Breakdown of ZnTe Nanowires

著者 (6件)： DAVAMI Keivan (Pohang Univ. Sci. and Technol., Pohang, KOR) ,  GHASSEMI Hessam M. (Michigan Technological Univ., MI, USA) ,  YASSAR Reza S. (Michigan Technological Univ., MI, USA) ,  LEE Jeong-Soo (Pohang Univ. Sci. and Technol., Pohang, KOR) ,  MEYYAPPAN M. (Pohang Univ. Sci. and Technol., Pohang, KOR) ,  MEYYAPPAN M. (NASA, CA, USA)
資料名： ChemPhysChem  (ChemPhysChem)
巻： 13  号： 1  ページ： 347-352  発行年： 2012年01月16日 
JST資料番号： W1265A  ISSN： 1439-4235  CODEN： CPCHFT  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 無機ナノワイヤの利用の継続的増加に伴い,それらの構造物の高い電気的あるいは熱的応力の下での安定性の研究が必要になっている。ZnTeナノワイヤをVLS成長で成長させ,Joule熱による破断を透過電子顕微鏡(TEM)によるその場監視で研究した。実験は走査トンネル顕微鏡(STM)とTEM内に設けた移動可能なピエゾ管により単一ナノワイヤで操作できた。ZnTeナノワイヤに接触したSTMチップに負荷した電圧がナノワイヤをZnとTeの粒子または球に破壊し,それを実時間観察した。それらの球はOstwald熟成により成長し,ZnTeナノワイヤの表面形状が次第に粗くなった。部分的破壊後のワイヤの軸に沿った回折パターンは格子間隔が初期の0.35nmから小さくなった。

シソーラス用語： *テルル化亜鉛 ,  *ナノワイヤ ,  VLS成長 ,  電子顕微鏡観察 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  電極チップ ,  抵抗加熱 ,  *熱分解 ,  熱応力 ,  安定性 ,  圧電センサ ,  亜鉛 ,  テルル ,  微粒子 ,  ナノ粒子 ,  表面粗さ ,  格子定数 ,  Ramanスペクトル ,  電子回折
準シソーラス用語： ナノスフェア

分類 (2件)： その他の無触媒反応  (CB06070U) ,  原子・分子のクラスタ  (BH09030O)

タイトルに関連する用語 (3件)： ZnTe ,  ナノワイヤ ,  熱破壊