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J-GLOBAL ID：201202245187436605   整理番号：12A0970320

意図的な電磁妨害による暗号モジュールへの故障注入メカニズムに関する検討

An Investigation of a Mechanism of Intentional Electromagnetic Interference to a Cryptographic Module

著者 (5件)： 林優一 (東北大) ,  本間尚文 (東北大) ,  水木敬明 (東北大) ,  青木孝文 (東北大) ,  曽根秀昭 (東北大)
資料名： 電気学会電磁環境研究会資料  (電気学会研究会資料)
巻： EMC-12  号： 6-17  ページ： 23-27  発行年： 2012年06月22日 
JST資料番号： L4033A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 正弦波を用いたモジュール遠方からの非侵襲なフォールト注入の発生メカニズムを明らかにし,実験を通して暗号モジュールに供給される電圧変動やクロックの振舞いを観測することにより,セットアップタイム違反によって暗号モジュールにフォールトが注入される可能性を示した。また,フォールト注入の周波数と電圧値を変化させ,注入される正弦波に対するフォールとの発生確率を詳細に調査し,適切な周波数,電圧値を選択して,一定期間に実行される暗号処理に対し,最大60%を越えるフォールト発生の可能性を示した。また,実験結果から,他モジュールに比べ,暗号モジュールのイミュニティを向上させ,正弦波を用いた機器外部からの非侵襲なフォールと注入への対策となる可能性を示した。

シソーラス用語： *電磁干渉 ,  暗号 ,  *故障解析 ,  注入 ,  *暗号装置 ,  故障率 ,  伝達関数 ,  電圧変動 ,  *コンピュータセキュリティ ,  サイバー攻撃
準シソーラス用語： サイドチャネル攻撃 ,  故障注入

分類 (1件)： 電力変換器  (NB08030B)

引用文献 (14件)：

• [1] D. Boneh, R. Demillio, and R. Liotin, "On the Importance of Checking Crypto-graphic Protocols for Fault," Advances in Cryptology (Eurocrypt '97), LNCS 1233, pp. 37-51, May 1997.
• [2] E. Biham and A. Shamir, "Differential Fault Analysis of Secret Key Cryptosystems," Advances in Cryptology (Crypto '97), LNCS 1294, pp.513-525, Aug. 1997.
• [3] J. Bl-omer and J.-P. Seifert, "Fault Based Crypt-analysis of the Advanced Encryption Standard (AES)," Financial Cryptography: 7th International Conf., (FC 2003), LNCS 2742, pp. 162-181, Jan. 2003.
• [4] G. Piret and J.-J. Quisquater, "A Differential Fault Attack Technique against SPN Structures, with Application to the AES and Khazad," Workshop on Crypto-graphic Hardware and Embedded Systems (CHES 2003), LNCS 2779, pp.77-88, Sep. 2003.
• [5] C.-N. Chen and S.-M. Yen, "Differential Fault Analysis on AES Key Schedule and Some Countermeasures," Australasian Conf. on Information Security and Privacy (ACISP 2003), LNCS 2727, pp.118-129, Jul. 2003.

タイトルに関連する用語 (5件)： 意図 ,  電磁妨害 ,  暗号モジュール ,  故障注入 ,  メカニズム