抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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走査型電子顕微鏡と連動した電子線後方散乱回折(EBSD)を用いて,粒界に対する局部的なミス方位の局所化を評価した。局所化を定量的に評価するため,粒界局部ミス方位と定義したパラメーターを提案した。変形した316型ステンレス鋼を用いた結晶方位測定により,粒界局部ミス方位が適用した塑性歪とともに増加する事が分かった。特に,いくつかの粒界において,粒界局部ミス方位が全領域の平均値の3倍に達した。表面観察より,粒界近傍の大きな局部的ミス方位は表面で観察される辷り帯の数よりも,妨害された辷り帯に帰せられる事が分かった。粒界局部ミス方位の大きさは粒界の長さあるいは粒界ミス方位と弱い関係しか持たず,双晶境界とは関連が無かった。最後に,最大の粒界ミス方位は統計的に予測可能で,80mm
2の面積の試料に対し予測最大値は平均値の10.6倍である事が示された。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.