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J-GLOBAL ID：201202245623247830   整理番号：12A0394308

最新AFM技術 ブルカー社の最新AFM技術

著者 (1件)： 後藤千絵 (ブルカー・エイエックスエス)
資料名： O plus E  (O plus E)
号： 388  ページ： 210-216  発行年： 2012年02月25日 
JST資料番号： Z0994A  ISSN： 0911-5943  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 米国Bruker AXS社の走査型プローブ顕微鏡(SPM)製品群を紹介した。同社の製品の特徴の一つは2009年に開発したピークフォースタッピング(PFT)モード原子間力顕微鏡(AFM)にある。このAFMの機械特性を説明した。もう一つの特徴は2011年に開発したピークフォース-トンネリング顕微鏡(PF-TUNA)である。このAFMは形状と導電性を同時に計測できる。Raman分光法を組合せて化学識別を可能にした深針増強Raman分光(TERS)AFMと高速走査を可能にした大型サンプルステージ型AFMについても解説した。

シソーラス用語： *原子間力顕微鏡 ,  *走査型トンネル顕微鏡 ,  *走査型プローブ顕微鏡 ,  製品開発 ,  モード ,  機械的性質 ,  電気的性質 ,  導電性 ,  同時計測 ,  Raman分光法 ,  化学分析 ,  表面増強Raman分光法 ,  走査 ,  高速度
準シソーラス用語： タッピングモード

分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (1件)： AFM