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J-GLOBAL ID：201202245686634868   整理番号：12A1079830

因果関係に基づくデバイス特性評価手法

Device Characterization Techniques Based on Causal Relationships

著者 (3件)： WOJNOWSKI Maciej (Infineon Technol. AG, Neubiberg, DEU) ,  SOMMER Grit (Infineon Technol. AG, Neubiberg, DEU) ,  WEIGEL Robert (Univ. Erlangen-Nuremberg, Erlangen, DEU)
資料名： IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques  (IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques)
巻： 60  号： 7  ページ： 2203-2219  発行年： 2012年07月 
JST資料番号： C0229A  ISSN： 0018-9480  CODEN： IETMAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ベクトルネットワークアナライザ(以下VNA)によるデバイス特性評価の手法として,因果関係に基づく計算法が知られている。しかし,従来法はVNAの限られた感度やダイナミックレンジなどのため,測定に基づく回路要素の正確な再構成あるいは正確な特性評価が不可能な場合があった。本論文では,こうした問題を克服するため,因果関係に基づくデバイス特性評価のための新しい手法を提案する。これは,測定された回路網関数が因果的関数でなければならないという観察に基づく。回路網関数の振幅と位相や実数部と虚数部の関係などが独立ではなく,因果関係で関連付けられていることに基づく。提案した手法は,従来の再構成法と違い,測定データから注意深く選んだ基準点(減算法)による一般化された分散関係(dispersion relationships)を用いる。本稿では,まず分散関係について述べ,その積分形を示す。次いで,分散関係の実際の取扱いで出会う分散積分の数値的評価の問題について論じる。そして,こうした検討に基づき,基準点を持つ一般化分散関係を提案し,基準点の最適配置について論じる。また,VAN測定に対する一般化分散関係の利用可能性を解析し,インピーダンス決定の不確実性や有限帯域幅などの問題について論じる。提案した手法の有効性を示すため,Q値の高いインダクタの電気抵抗と品質因子をVANの測定値から再構成した結果を示し,そのロバスト性について論じる。

シソーラス用語： *ネットワークアナライザ ,  *回路解析 ,  回路特性 ,  *キャラクタリゼーション ,  因果律 ,  *電子回路 ,  再構成 ,  キャリブレーション ,  マイクロ波測定 ,  特徴抽出 ,  パラメータ ,  関数 ,  分散【dispersion】 ,  基準点 ,  数値解析 ,  インピーダンス ,  インダクタ ,  Q値 ,  ロバスト性
準シソーラス用語： Sパラメータ ,  パラメータ抽出 ,  回路網関数 ,  *ベクトルネットワークアナライザ

分類 (2件)： 回路理論一般  (NA02010M) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 因果関係 ,  デバイス特性 ,  評価手法