YEH Nan-Hsiung について
Seagate Technol., CA, USA について
ZHANG Zhenyong について
Seagate Technol., CA, USA について
STEINER Philip について
Seagate Technol., CA, USA について
IEEE Transactions on Magnetics について
SN比 について
誤り率 について
磁気記録 について
性能分析 について
システム解析 について
システム設計 について
パリティ検査 について
ビットエラー率 について
構成要素 について
電子・磁気・光学記録 について
構成要素 について
SNR について
信号対雑音比 について
誤り率 について