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J-GLOBAL ID：201202246313769468   整理番号：12A1694158

ポリ(3-ヘキシルチオフェン)ドロップキャストフィルムの固化中の電気特性と構造特性との間の直接相関

Direct Correlation Between Electric and Structural Properties During Solidification of Poly(3-hexylthiophene) Drop-Cast Films

著者 (3件)： GRODD Linda (Univ. Siegen, Siegen, DEU) ,  PIETSCH Ullrich (Univ. Siegen, Siegen, DEU) ,  GRIGORIAN Souren (Univ. Siegen, Siegen, DEU)
資料名： Macromolecular Rapid Communications  (Macromolecular Rapid Communications)
巻： 33  号： 20  ページ： 1765-1769  発行年： 2012年10月26日 
JST資料番号： D0314B  ISSN： 1022-1336  CODEN： MRCOE3  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ドロップキャスト法によるSi/SiO₂表面上での半結晶ポリ(3-ヘキシルチオフェン)(P3HT)キャストフィルムの固化中の構造的及び電気的特性を印加電界の下で測定した。溶媒が蒸発しP3HT微結晶が生成するプロセスを時間分解X線回折及びソース・ドレイン電流測定により同時に観測した。電流はドロップの沈着後すぐに増加を始め,ゲル様状態で最高値に達するのに対し,秩序だったナノ領域の形成はゲル化の最終段階で始まり固体の状態になって飽和する。本研究により高電導に対しては,剛直な鎖を持った結晶が形成されることよりも,まだ可撓性のある鎖の間に相互接続ネットワークが出来る事の方が重要な因子であることが示された。

シソーラス用語： *ポリヘキシルチオフェン ,  *製膜 ,  *高分子薄膜 ,  電圧 ,  凝固 ,  微結晶 ,  結晶化 ,  時間分解分光法 ,  X線回折 ,  相関 ,  *電気伝導率 ,  半結晶性高分子 ,  電流 ,  *FET【トランジスタ】 ,  *モルフォロジー
準シソーラス用語： すれすれ入射X線回折 ,  ドレイン電流 ,  *ドロップキャスティング ,  印加電圧 ,  構造特性相関 ,  *OFET

分類 (1件)： 高分子固体の物性一般  (CG02021V)

物質索引 (1件)： 3-ヘキシルチオフェン

タイトルに関連する用語 (7件)： 3-ヘキシルチオフェン ,  ドロップ ,  キャストフィルム ,  固化 ,  電気特性 ,  構造特性 ,  相関