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J-GLOBAL ID：201202246848279613   整理番号：12A1218883

高分解能顕微鏡法のための適応光学系: 後方散乱光を利用した波面センシング

Adaptive optics for high-resolution microscopy: wave front sensing using back scattered light

著者 (2件)： RAHMAN Saad A. (Univ. Oxford, GBR) ,  BOOTH Martin J. (Univ. Oxford, GBR)
資料名： Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)
巻： 8253  ページ： 82530I.1-82530I.5  発行年： 2012年 
JST資料番号： D0943A  ISSN： 0277-786X  CODEN： PSISDG  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高分解能顕微鏡法では,有害な収差を補正するために,適応光学系が利用されている。収差測定法として,直接波面センシングや間接最適化法が利用されている。本論文では,後方散乱光を利用した波面センシングについて検討した。直接波面センシングにピンホールフィルタ処理Shack Hartmann波面センサを利用した。また,光源としてレーザ照射後方散乱を利用した。これを実験的に検討して,データを解析し,この性能を調べた。この結果,センサの応答は入力収差に対して線形であることが判明した。この応答の勾配は実験配置と試料構造に依存した。顕微鏡システムの二重パス特性により,奇対称性収差モードに対する感度が低下することが分かった。

シソーラス用語： ピンホール ,  最適化手法 ,  レーザ照射 ,  *光センサ ,  高分解能 ,  *後方散乱 ,  *光学顕微鏡法 ,  光検出 ,  *適応光学 ,  光学系 ,  光学フィルタ ,  散乱光 ,  収差補正
準シソーラス用語： Shack-Hartmannセンサ ,  最適化方法 ,  *波面センサ

分類 (2件)： 光学的測定とその装置一般  (BD07010S) ,  光の像形成  (BD03050I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 高分解能 ,  顕微鏡法 ,  適応光学 ,  後方散乱光 ,  波面センシング