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J-GLOBAL ID：201202247114255044   整理番号：12A0784212

時系列再構成および空間勾配修正による過渡閉込めサーモグラフィーの画像強調

Image Enhancement in Transient Lock-In Thermography Through Time Series Reconstruction and Spatial Slope Correction

著者 (2件)： CHATTERJEE Krishnendu (Indian Inst. Technol., Delhi, IND) ,  TULI Suneet (Indian Inst. Technol., Delhi, IND)
資料名： IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement  (IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement)
巻： 61  号： 4  ページ： 1079-1089  発行年： 2012年04月 
JST資料番号： C0232A  ISSN： 0018-9456  CODEN： IEIMAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 閉込め(LI)サーモグラフィーは黒化表面で外部加熱刺激を必要とする一般的な熱非破壊試験技術である。表面アーチファクトをオフラン除去するための画像再構成アルゴリズムを提案した。提案アルゴリズムは三つの主要終点を持つ。すなわち,1)任意周波数での過渡体制下において機能できる手法を提案することによりLI実験の期間の縮小,2)非均質表面放射率による赤外線(IR)画像の表面アーチファクトの除去,3)使用する加熱システムの非均一性によるIR画像の背景勾配のろ過作用である。

シソーラス用語： 画像強調 ,  サーモグラフィー ,  閉込め ,  再構成 ,  修正 ,  熱放射率 ,  *非破壊検査 ,  *熱放射
準シソーラス用語： 過渡閉込め ,  時系列再構成 ,  空間勾配修正

分類 (2件)： 非破壊試験  (HB02030F) ,  放射伝達,放射変調  (BD03080P)

タイトルに関連する用語 (6件)： 時系列 ,  再構成 ,  勾配 ,  閉込め ,  サーモグラフィー ,  画像強調